パルステック

s-Laue X線単結晶方位測定装置

特　長
省スペースで取り扱いが簡単なラウエカメラです。
  • 単結晶材料のX線回折(ラウエ斑点)画像を高速に取得できます。
  • 空冷X線発生装置と高感度検出器が一体となった卓上型です。
  • X線を垂直下向きに入射するため試料の設置が簡単です。
  • 顕微鏡を用いて精密な位置合わせが可能です。
  • 小型・軽量で省スペース化を実現しました。
使用例
  • 主面方位の測定
  • 切り出し方位の確認・調整
  • 結晶性評価
  • 結晶成長、加工関連
  • 半導体デバイス製造・開発
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